Hitachi High-Tech bringt das hochempfindliche Rastersondenmikroskopsystem AFM100 Pro mit verbesserter Erkennungsempfindlichkeit auf den Markt

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TOKIO, 28. Juni 2022 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation gab heute die Einführung des hochempfindlichen Rastersondenmikroskopsystems AFM100 Pro bekannt, eines High-End-Rastersondenmikroskops (AFM(1)/SPM(2) ) ausgestattet mit einem neu entwickelten hochempfindlichen optischen Kopf, der die Empfindlichkeit bei der Messung physikalischer Eigenschaften verbessert und Messungen auf atomarer und molekularer Ebene ermöglicht.

Hochempfindliches Rastersondenmikroskopsystem AFM100 Pro

Im Bereich der Forschung und Entwicklung fortschrittlicher Funktionsmaterialien ist die Entwicklung hochsensibler Mess- und Analysegeräte sehr gefragt. Das AFM100 Pro erfüllt die Anforderungen für Analysen vor Ort und trägt zur Lösung von Kundenproblemen bei.

Überblick über AFM

AFM ist eine Art Mess- und Analysegerät, das die Oberfläche einer Probe mit einer Sonde mit einer Spitze von nur wenigen Nanometern (3) im Durchmesser abtastet. AFM kann eine Probenoberfläche im Nanomaßstab visualisieren und gleichzeitig Bewertungen physikalischer Eigenschaften durchführen. AFM wird in Forschung und Entwicklung sowie Qualitätskontrolle in einer Vielzahl von Branchen eingesetzt, z. B. in der Halbleiter-, Polymer- und Biomedizinbranche. Hitachi High-Tech bietet eine große Auswahl an benutzerfreundlichen AFM-Geräten und hat die Zuverlässigkeit dieser Geräte kontinuierlich verbessert, indem der AFM-Messprozess vereinfacht und durch den Bediener verursachte Datenabweichungen verhindert wurden.

Hintergrund der Entwicklung des AFM100 Pro

In den letzten Jahren konzentrierte sich die Entwicklung fortschrittlicher Funktionsmaterialien auf die Nanotechnik, um die Entwicklung von CO5-Neutralität, digitaler Transformation (DX) mit KI und IoT, Elektrofahrzeugen, XNUMXG und Leistungsgeräten zu erleichtern. Da neue funktionelle Materialien immer kleiner, dünner und organischer werden, besteht eine erhöhte Nachfrage nach einer Verbesserung der Empfindlichkeit bei der Messung mikroskopischer Veränderungen und geringfügiger Variationen der physikalischen Eigenschaften von Materialoberflächen.

AFM100 Pro-Funktionen

Um diesen Herausforderungen zu begegnen, ist das von Hitachi High-Tech entwickelte AFM100 Pro mit einem neu entwickelten hochempfindlichen optischen Kopf ausgestattet, der photothermische Anregung nutzt, um eine verbesserte Empfindlichkeit bei der Messung physikalischer Eigenschaften und Messungen auf atomarer und molekularer Ebene zu erreichen.

Die Hauptmerkmale dieses Produkts sind wie folgt:

1. Hochempfindlicher optischer Kopf verbessert die Empfindlichkeit bei der Messung physikalischer Eigenschaften

Der neu entwickelte hochempfindliche optische Kopf reduziert den Rauschpegel für die Cantilever-Versatzerkennung und optimiert die Erkennungsempfindlichkeit.
Darüber hinaus ermöglicht die photothermische Anregungsfunktion (IR-Drive), die den Cantilever mit Licht anregt, eine stabile Kontrolle der Cantilever-Oszillationsamplitude im Sub-nm-Bereich. Dies ermöglicht eine hochauflösende Messung bei der Beobachtung in Flüssigkeiten.

2. Erweiterte Korrelationsanalyse mit hochempfindlicher Messung physikalischer Eigenschaften und SEM-Beobachtung am selben Ort

Der hochempfindliche optische Kopf mit einem deutlich reduzierten Rauschpegel ermöglicht die Erkennung feiner Unterschiede in den physikalischen Eigenschaften, die mit herkömmlichen optischen Köpfen aufgrund des relativ höheren Rauschens nicht beobachtet werden konnten. Die optionale AFM-Markierungsfunktion macht es einfach, denselben Ort wie das SEM(4) zu beobachten, und trägt wesentlich dazu bei, die Faktoren hinter den feinen Unterschieden in den Informationen zu physikalischen Eigenschaften zu identifizieren.

3. Skalierbar und langlebig

Sowohl das Standardmodell AFM100 als auch das AFM100 Plus können zum AFM100 Pro aufgerüstet werden. Sie können beispielsweise mit dem budgetfreundlichen AFM100 beginnen und später auf das AFM100 Pro upgraden, wenn Sie ein höheres Analyseniveau benötigen. Darüber hinaus ist eine Selbsttestfunktion standardmäßig enthalten, um die Zuverlässigkeit der Geräte für lange Zeit zu gewährleisten.

Hitachi High-Tech wird weiterhin zeitnah innovative Lösungen wie dieses Produkt bereitstellen und gleichzeitig an der Beobachtung, Messung und Analyse arbeiten, um gemeinsam mit unseren Kunden soziale Probleme zu lösen und zu einer hochmodernen Fertigung beizutragen.

(1) AFM: Rasterkraftmikroskop
(2) SPM: Rastersondenmikroskop
(3) Nanometer: Ein Nanometer = ein Millionstel Millimeter
(4) SEM: Rasterelektronenmikroskop

Über Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech mit Hauptsitz in Tokio, Japan, ist in einem breiten Spektrum von Bereichen tätig, darunter Herstellung und Vertrieb von klinischen Analysegeräten, Biotechnologieprodukten und Analyseinstrumenten, Halbleiterfertigungsgeräten und Analysegeräten. und Bereitstellung von Lösungen mit hoher Wertschöpfung in den Bereichen soziale und industrielle Infrastruktur und Mobilität usw. Der konsolidierte Umsatz des Unternehmens belief sich im Geschäftsjahr 2021 auf ca. 576.8 Milliarden JPY [5.1 Milliarden US-Dollar]. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.hitachi-hightech.com/global/

Copyright 2022 JCN Newswire. Alle Rechte vorbehalten. www.jcnnewswire.comHitachi High-Tech Corporation gab heute die Einführung des hochempfindlichen Rastersondenmikroskopsystems AFM100 Pro bekannt, eines High-End-Rastersondenmikroskops (AFM/SPM), das mit einem neu entwickelten hochempfindlichen optischen Kopf ausgestattet ist, der die Empfindlichkeit verbessert bei der Messung physikalischer Eigenschaften und ermöglicht Messungen auf atomarer und molekularer Ebene.