Hitachi High-Tech lanza el sistema de microscopio de sonda de barrido de alta sensibilidad AFM100 Pro con sensibilidad de detección mejorada

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TOKIO, 28 de junio de 2022 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation anunció hoy el lanzamiento del sistema de microscopio de sonda de barrido de alta sensibilidad AFM100 Pro, un microscopio de sonda de barrido de gama alta (AFM(1)/SPM(2) ) equipado con un cabezal óptico de alta sensibilidad recientemente desarrollado que mejora la sensibilidad al medir propiedades físicas y permite la medición a escala atómica y molecular.

Sistema de microscopio de sonda de barrido de alta sensibilidad AFM100 Pro

En el campo de la investigación y el desarrollo de materiales funcionales avanzados, el desarrollo de equipos de medición y análisis altamente sensibles tiene una gran demanda. El AFM100 Pro cumple con el requisito de análisis in situ y contribuirá a resolver los problemas de los clientes.

Descripción general de AFM

AFM es un tipo de dispositivo de medición y análisis que escanea la superficie de una muestra utilizando una sonda con una punta de unos pocos nanómetros (3) de diámetro. AFM puede visualizar una superficie de muestra a nanoescala y, al mismo tiempo, realizar evaluaciones de propiedades físicas. AFM se utiliza en investigación y desarrollo y control de calidad en una amplia gama de industrias, como semiconductores, polímeros y biomédica. Hitachi High-Tech ofrece una amplia gama de dispositivos AFM fáciles de usar y ha mejorado constantemente la confiabilidad de estos dispositivos al simplificar el proceso de medición de AFM y evitar variaciones de datos causadas por el operador.

Antecedentes del desarrollo del AFM100 Pro

En los últimos años, el desarrollo de materiales funcionales avanzados se ha centrado en la ingeniería a nanoescala para facilitar el desarrollo de la neutralidad de carbono, la transformación digital (DX) que involucra IA e IoT, EV, 5G y dispositivos de energía. A medida que los nuevos materiales funcionales son cada vez más pequeños, delgados y orgánicos, ha aumentado la demanda de mejorar la sensibilidad al medir cambios microscópicos y variaciones menores en las propiedades físicas de las superficies de los materiales.

Características del AFM100 Pro

Para hacer frente a estos desafíos, el AFM100 Pro desarrollado por Hitachi High-Tech está equipado con un cabezal óptico de alta sensibilidad recientemente desarrollado que utiliza excitación fototérmica para lograr una sensibilidad mejorada al medir propiedades físicas y mediciones a escala atómica y molecular.

Las principales características de este producto son las siguientes:

1. El cabezal óptico de alta sensibilidad mejora la sensibilidad al medir propiedades físicas

El cabezal óptico de alta sensibilidad recientemente desarrollado reduce el nivel de ruido para la detección de desplazamiento en voladizo y optimiza la sensibilidad de detección.
Además, la función de excitación fototérmica (IR-Drive), que excita el voladizo con luz, permite un control estable de la amplitud de oscilación del voladizo en el orden de subnm. Esto permite una medición de alta resolución cuando se observa en líquidos.

2. Análisis de correlación avanzado con medición de alta sensibilidad de propiedades físicas y observación SEM en el mismo lugar

El cabezal óptico de alta sensibilidad con un nivel de ruido significativamente reducido permite la detección de diferencias sutiles en las propiedades físicas, que no podrían observarse con cabezales ópticos convencionales debido a ruidos relativamente altos. La función de marcado AFM opcional facilita la observación de la misma ubicación que el SEM(4), lo que contribuye significativamente a identificar los factores detrás de las sutiles diferencias en la información de propiedades físicas.

3. Escalable y duradero

El modelo AFM100 estándar y el AFM100 Plus se pueden actualizar al AFM100 Pro. Por ejemplo, puede comenzar con el económico AFM100 y luego actualizar al AFM100 Pro más tarde si necesita un mayor nivel de análisis. Además, se incluye de serie una función de autocomprobación, para asegurar la fiabilidad del equipo durante mucho tiempo.

Hitachi High-Tech continuará brindando soluciones innovadoras como este producto de manera oportuna, mientras trabaja en observación, medición y análisis para resolver problemas sociales junto con nuestros clientes, además de contribuir a la fabricación de vanguardia.

(1) AFM: Microscopio de fuerza atómica
(2) SPM: microscopio de sonda de barrido
(3) Nanómetros: Un nanómetro = una millonésima de milímetro
(4) SEM: Microscopio electrónico de barrido

Acerca de Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech, con sede en Tokio, Japón, participa en actividades en una amplia gama de campos, incluida la fabricación y venta de analizadores clínicos, productos biotecnológicos e instrumentos analíticos, equipos de fabricación de semiconductores y equipos de análisis. y brindando soluciones de alto valor agregado en los campos de infraestructuras sociales e industriales y movilidad, etc. Los ingresos consolidados de la compañía para el año fiscal 2021 fueron aprox. 576.8 millones de JPY [5.1 millones de USD]. Para más información, visite http://www.hitachi-hightech.com/global/

Derechos de autor 2022 JCN Newswire. Reservados todos los derechos. www.jcnnewswire.comHitachi High-Tech Corporation anunció hoy el lanzamiento del sistema de microscopio de sonda de barrido de alta sensibilidad AFM100 Pro, un microscopio de sonda de barrido de gama alta (AFM/SPM) equipado con un cabezal óptico de alta sensibilidad recientemente desarrollado que mejora la sensibilidad al medir propiedades físicas y permite la medición a escala atómica y molecular.