Hitachi High-Tech lancia il sistema di microscopio con sonda a scansione ad alta sensibilità AFM100 Pro con sensibilità di rilevamento migliorata

Timestamp: 28 giugno 2022 4:51
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TOKYO, 28 giugno 2022 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation ha annunciato oggi il lancio del sistema di microscopi a sonda a scansione ad alta sensibilità AFM100 Pro, un microscopio a sonda a scansione di fascia alta (AFM(1)/SPM(2) ) dotato di una testina ottica ad alta sensibilità di nuova concezione che migliora la sensibilità durante la misurazione delle proprietà fisiche e consente la misurazione su scala atomica e molecolare.
Sistema di microscopio con sonda a scansione ad alta sensibilità AFM100 Pro


Nel campo della ricerca e dello sviluppo di materiali funzionali avanzati, lo sviluppo di apparecchiature di misurazione e analisi altamente sensibili è molto richiesto. L'AFM100 Pro soddisfa i requisiti per l'analisi in loco e contribuirà a risolvere i problemi dei clienti.

Panoramica dell'AFM

L'AFM è un tipo di dispositivo di misurazione e analisi che scansiona la superficie di un campione utilizzando una sonda con una punta di pochi nanometri(3) di diametro. L'AFM può visualizzare una superficie del campione su scala nanometrica e contemporaneamente eseguire valutazioni delle proprietà fisiche. L'AFM è utilizzato nella ricerca e sviluppo e nel controllo di qualità in un'ampia gamma di settori, come semiconduttori, polimeri e biomedico. Hitachi High-Tech fornisce un'ampia gamma di dispositivi AFM di facile utilizzo e ha costantemente migliorato l'affidabilità di questi dispositivi semplificando il processo di misurazione AFM e prevenendo le variazioni dei dati causate dall'operatore.

Sfondo dello sviluppo dell'AFM100 Pro

Negli ultimi anni, lo sviluppo di materiali funzionali avanzati si è concentrato sull'ingegneria su nanoscala, per facilitare lo sviluppo della neutralità del carbonio, della trasformazione digitale (DX) che coinvolge AI e IoT, veicoli elettrici, 5G e dispositivi di alimentazione. Poiché i nuovi materiali funzionali stanno diventando più piccoli, più sottili e più organici, è aumentata la richiesta di migliorare la sensibilità durante la misurazione di cambiamenti microscopici e variazioni minori nelle proprietà fisiche delle superfici dei materiali.

Caratteristiche dell'AFM100 Pro

Per affrontare queste sfide, l'AFM100 Pro sviluppato da Hitachi High-Tech è dotato di una testa ottica ad alta sensibilità di nuova concezione che utilizza l'eccitazione fototermica per ottenere una maggiore sensibilità durante la misurazione delle proprietà fisiche e la misurazione su scala atomica e molecolare.

Le caratteristiche principali di questo prodotto sono le seguenti:

1. La testina ottica ad alta sensibilità migliora la sensibilità durante la misurazione delle proprietà fisiche

La testina ottica ad alta sensibilità di nuova concezione riduce il livello di rumore per il rilevamento dello spostamento a sbalzo e ottimizza la sensibilità di rilevamento.
Inoltre, la funzione di eccitazione fototermica (IR-Drive), che eccita il cantilever utilizzando la luce, consente un controllo stabile dell'ampiezza di oscillazione del cantilever nell'ordine sub-nm. Ciò consente misurazioni ad alta risoluzione durante l'osservazione nei liquidi.

2. Analisi di correlazione avanzata con misurazione ad alta sensibilità delle proprietà fisiche e osservazione SEM nella stessa posizione

La testina ottica ad alta sensibilità con un livello di rumore notevolmente ridotto consente il rilevamento di sottili differenze nelle proprietà fisiche, che non potrebbero essere osservate utilizzando testine ottiche convenzionali a causa di rumori relativamente più elevati. La funzione opzionale di marcatura AFM consente di osservare facilmente la stessa posizione del SEM(4), contribuendo in modo significativo all'identificazione dei fattori alla base delle sottili differenze nelle informazioni sulle proprietà fisiche.

3. Scalabile e durevole

Il modello AFM100 standard e l'AFM100 Plus possono essere entrambi aggiornati all'AFM100 Pro. Ad esempio, puoi iniziare con l'AFM100 economico, quindi passare all'AFM100 Pro in un secondo momento se hai bisogno di un livello di analisi più elevato. Inoltre, è inclusa di serie una funzione di autocontrollo, per garantire a lungo l'affidabilità dell'apparecchiatura.

Hitachi High-Tech continuerà a fornire soluzioni innovative come questo prodotto in modo tempestivo, lavorando su osservazione, misurazione e analisi per risolvere problemi sociali insieme ai nostri clienti, oltre a contribuire a una produzione all'avanguardia.

(1) AFM: microscopio a forza atomica
(2) SPM: microscopio con sonda a scansione
(3) Nanometri: un nanometro = un milionesimo di millimetro
(4) SEM: microscopio elettronico a scansione

Informazioni su Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech, con sede a Tokyo, in Giappone, è impegnata in attività in un'ampia gamma di settori, tra cui la produzione e la vendita di analizzatori clinici, prodotti biotecnologici e strumenti analitici, apparecchiature per la produzione di semiconduttori e apparecchiature di analisi. e fornendo soluzioni ad alto valore aggiunto nei settori delle infrastrutture sociali e industriali e della mobilità, ecc. I ricavi consolidati dell'azienda per l'esercizio 2021 sono stati di ca. JPY 576.8 miliardi [USD 5.1 miliardi]. Per ulteriori informazioni, visitare http://www.hitachi-hightech.com/global/


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