Hitachi High-Tech lanceert het AFM100 Pro hooggevoelige scanningsondemicroscoopsysteem met verbeterde detectiegevoeligheid

Tijdstempel: 28 juni 2022 4:51 uur
Bronknooppunt: 1541335

TOKYO, 28 juni 2022 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation heeft vandaag de lancering aangekondigd van het AFM100 Pro High-Sensitivity Scanning Probe Microscope System, een high-end scanning probe-microscoop (AFM(1)/SPM(2) ) uitgerust met een nieuw ontwikkelde optische kop met hoge gevoeligheid die de gevoeligheid verbetert bij het meten van fysieke eigenschappen en metingen op atomaire en moleculaire schaal mogelijk maakt.
Microscoopsysteem met hoge gevoeligheid voor scanningsonde AFM100 Pro


Op het gebied van onderzoek en ontwikkeling van geavanceerde functionele materialen is er veel vraag naar de ontwikkeling van zeer gevoelige meet- en analyseapparatuur. De AFM100 Pro voldoet aan de eis voor analyse ter plaatse en zal bijdragen aan het oplossen van klantproblemen.

Overzicht van AFM

AFM is een type meet- en analyseapparaat dat het oppervlak van een monster scant met een sonde met een punt van slechts enkele nanometers (3) in diameter. AFM kan een monsteroppervlak visualiseren op nanoschaal en tegelijkertijd fysieke eigenschapsevaluaties uitvoeren. AFM wordt gebruikt in onderzoek en ontwikkeling en kwaliteitscontrole in een breed scala van industrieën, zoals halfgeleiders, polymeren en biomedische toepassingen. Hitachi High-Tech biedt een breed scala aan gebruiksvriendelijke AFM-apparaten en heeft de betrouwbaarheid van deze apparaten voortdurend verbeterd door het AFM-meetproces te vereenvoudigen en door de operator veroorzaakte gegevensafwijkingen te voorkomen.

Achtergrond van de ontwikkeling van de AFM100 Pro

In de afgelopen jaren is de ontwikkeling van geavanceerde functionele materialen gericht geweest op engineering op nanoschaal, om de ontwikkeling van koolstofneutraliteit, digitale transformatie (DX) met AI en IoT, EV's, 5G en stroomapparaten te vergemakkelijken. Naarmate nieuwe functionele materialen kleiner, dunner en organischer worden, is er een toenemende vraag ontstaan ​​om de gevoeligheid te verbeteren bij het meten van microscopische veranderingen en kleine variaties in de fysieke eigenschappen van materiaaloppervlakken.

AFM100 Pro-functies

Om deze uitdagingen het hoofd te bieden, is de AFM100 Pro, ontwikkeld door Hitachi High-Tech, uitgerust met een nieuw ontwikkelde hooggevoelige optische kop die fotothermische excitatie gebruikt om een ​​verbeterde gevoeligheid te bereiken bij het meten van fysieke eigenschappen en metingen op atomaire en moleculaire schaal.

De belangrijkste kenmerken van dit product zijn als volgt:

1. Hooggevoelige optische kop verbetert de gevoeligheid bij het meten van fysieke eigenschappen

De nieuw ontwikkelde hooggevoelige optische kop vermindert het geluidsniveau voor detectie van cantileververplaatsingen en optimaliseert de detectiegevoeligheid.
Bovendien maakt de fotothermische excitatiefunctie (IR-Drive), die de cantilever met licht bekrachtigt, een stabiele regeling van de cantilever-oscillatie-amplitude in de sub-nm-volgorde mogelijk. Dit maakt metingen met een hoge resolutie mogelijk bij het observeren in vloeistoffen.

2. Geavanceerde correlatieanalyse met zeer gevoelige meting van fysische eigenschappen en SEM-observatie op dezelfde locatie

De hooggevoelige optische kop met een aanzienlijk verminderd ruisniveau maakt de detectie van subtiele verschillen in fysieke eigenschappen mogelijk, die niet konden worden waargenomen met conventionele optische koppen vanwege relatief hogere ruis. De optionele AFM-markeringsfunctie maakt het gemakkelijk om dezelfde locatie als de SEM(4) te observeren, wat aanzienlijk bijdraagt ​​aan het identificeren van de factoren achter de subtiele verschillen in fysieke eigendomsinformatie.

3. Schaalbaar en duurzaam

Het standaard AFM100-model en de AFM100 Plus kunnen beide worden geüpgraded naar de AFM100 Pro. U kunt bijvoorbeeld beginnen met de budgetvriendelijke AFM100 en later upgraden naar de AFM100 Pro als u een hoger analyseniveau nodig heeft. Daarnaast is er standaard een autocontrolefunctie opgenomen om de betrouwbaarheid van de apparatuur voor lange tijd te garanderen.

Hitachi High-Tech zal tijdig innovatieve oplossingen zoals dit product blijven bieden, terwijl het werkt aan observatie, meting en analyse om samen met onze klanten maatschappelijke problemen op te lossen en bij te dragen aan geavanceerde productie.

(1) AFM: Atomic Force Microscoop
(2) SPM: Scanning Probe Microscoop
(3) Nanometers: één nanometer = één miljoenste millimeter
(4) SEM: Scanning Electronen Microscoop

Over Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech, met het hoofdkantoor in Tokio, Japan, is actief op een groot aantal gebieden, waaronder de productie en verkoop van klinische analysers, biotechnologische producten en analytische instrumenten, apparatuur voor de productie van halfgeleiders en analyseapparatuur. en het bieden van oplossingen met hoge toegevoegde waarde op het gebied van sociale en industriële infrastructuren en mobiliteit, enz. De geconsolideerde inkomsten van het bedrijf voor FY 2021 waren ongeveer. JPY 576.8 miljard [USD 5.1 miljard]. Ga voor meer informatie naar http://www.hitachi-hightech.com/global/


Copyright 2022 JCN Newswire. Alle rechten voorbehouden. www.jcnnewswire.comHitachi High-Tech Corporation heeft vandaag de lancering aangekondigd van het AFM100 Pro High-Sensitivity Scanning Probe Microscope System, een high-end scanning probe microscoop (AFM/SPM) uitgerust met een nieuw ontwikkelde hooggevoelige optische kop die de gevoeligheid verbetert bij het meten van fysische eigenschappen en maakt metingen op atomaire en moleculaire schaal mogelijk.

Tijdstempel:

Meer van JCN Nieuwsdraad