Hitachi High-Tech lança o sistema de microscópio de varredura de alta sensibilidade AFM100 Pro com melhor sensibilidade de detecção

TÓQUIO, 28 de junho de 2022 – (JCN Newswire) – A Hitachi High-Tech Corporation anunciou hoje o lançamento do sistema de microscópio de sonda de varredura de alta sensibilidade AFM100 Pro, um microscópio de sonda de varredura de última geração (AFM(1)/SPM(2) ) equipado com um cabeçote óptico de alta sensibilidade recentemente desenvolvido que melhora a sensibilidade ao medir propriedades físicas e permite a medição em escalas atômicas e moleculares.

No campo da pesquisa e desenvolvimento de materiais funcionais avançados, o desenvolvimento de equipamentos de medição e análise altamente sensíveis está em grande demanda. O AFM100 Pro atende aos requisitos de análise no local e contribuirá para resolver os problemas dos clientes.

Visão geral do AFM

O AFM é um tipo de dispositivo de medição e análise que escaneia a superfície de uma amostra usando uma sonda com uma ponta de apenas alguns nanômetros(3) de diâmetro. O AFM pode visualizar uma superfície de amostra em nanoescala e, simultaneamente, realizar avaliações de propriedades físicas. O AFM é usado em pesquisa e desenvolvimento e controle de qualidade em uma ampla gama de indústrias, como semicondutores, polímeros e biomédicos. A Hitachi High-Tech fornece uma ampla gama de dispositivos AFM fáceis de usar e vem aprimorando constantemente a confiabilidade desses dispositivos, simplificando o processo de medição AFM e evitando variações de dados causadas pelo operador.

Antecedentes do desenvolvimento do AFM100 Pro

Nos últimos anos, o desenvolvimento de materiais funcionais avançados tem se concentrado na engenharia em nanoescala, para facilitar o desenvolvimento da neutralidade de carbono, transformação digital (DX) envolvendo IA e IoT, EVs, 5G e dispositivos de energia. À medida que novos materiais funcionais estão ficando menores, mais finos e mais orgânicos, tem havido uma demanda crescente para melhorar a sensibilidade ao medir mudanças microscópicas e pequenas variações nas propriedades físicas das superfícies dos materiais.

Recursos do AFM100 Pro

Para enfrentar esses desafios, o AFM100 Pro desenvolvido pela Hitachi High-Tech está equipado com um cabeçote óptico de alta sensibilidade recém-desenvolvido que usa excitação fototérmica para obter maior sensibilidade ao medir propriedades físicas e medições nas escalas atômica e molecular.

As principais características deste produto são as seguintes:

1. A cabeça óptica de alta sensibilidade melhora a sensibilidade ao medir propriedades físicas

A cabeça óptica de alta sensibilidade recentemente desenvolvida reduz o nível de ruído para detecção de deslocamento do cantilever e otimiza a sensibilidade de detecção.
Além disso, a função de excitação fototérmica (IR-Drive), que excita o cantilever usando luz, permite um controle estável da amplitude de oscilação do cantilever na ordem sub-nm. Isso permite a medição de alta resolução ao observar em líquidos.

2. Análise de correlação avançada com medição de alta sensibilidade de propriedades físicas e observação SEM no mesmo local

A cabeça óptica de alta sensibilidade com um nível de ruído significativamente reduzido permite a detecção de diferenças sutis nas propriedades físicas, que não podem ser observadas usando cabeças ópticas convencionais devido a ruídos relativamente mais altos. A função opcional AFM Marking facilita a observação do mesmo local que o SEM(4), contribuindo significativamente para identificar os fatores por trás das sutis diferenças nas informações de propriedades físicas.

3. Escalável e durável

O modelo AFM100 padrão e o AFM100 Plus podem ser atualizados para o AFM100 Pro. Por exemplo, você pode começar com o AFM100 econômico e, em seguida, atualizar para o AFM100 Pro posteriormente, se precisar de um nível mais alto de análise. Além disso, uma função de autoverificação está incluída como padrão, para garantir a confiabilidade do equipamento por um longo tempo.

A Hitachi High-Tech continuará a fornecer soluções inovadoras como este produto em tempo hábil, enquanto trabalha em Observação, Medição e Análise para resolver problemas sociais junto com nossos clientes, além de contribuir para a fabricação de ponta.

(1) AFM: Microscópio de Força Atômica
(2) SPM: Microscópio de Sonda de Varredura
(3) Nanômetros: Um nanômetro = um milionésimo de milímetro
(4) SEM: Microscópio Eletrônico de Varredura

Sobre Hitachi High-Tech

A Hitachi High-Tech, com sede em Tóquio, Japão, está envolvida em atividades em uma ampla gama de campos, incluindo fabricação e vendas de analisadores clínicos, produtos de biotecnologia e instrumentos analíticos, equipamentos de fabricação de semicondutores e equipamentos de análise. e fornecendo soluções de alto valor agregado nas áreas de infraestrutura social e industrial e mobilidade, etc. As receitas consolidadas da empresa para o ano fiscal de 2021 foram de aprox. JPY 576.8 bilhões [US$ 5.1 bilhões]. Para mais informações, visite http://www.hitachi-hightech.com/global/


Direitos autorais 2022 JCN Newswire. Todos os direitos reservados. www.jcnnewswire.comA Hitachi High-Tech Corporation anunciou hoje o lançamento do Sistema de Microscópio de Sonda de Varredura de Alta Sensibilidade AFM100 Pro, um microscópio de sonda de varredura de última geração (AFM/SPM) equipado com um cabeçote óptico de alta sensibilidade recém-desenvolvido que melhora a sensibilidade ao medir propriedades físicas e permite a medição em escalas atômicas e moleculares.

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• Fonte: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/76130/3/