Hitachi High-Tech lansează sistemul de microscop cu sondă de scanare de înaltă sensibilitate AFM100 Pro cu o sensibilitate de detectare îmbunătățită

Marca temporală: 28 iunie 2022 4:51
Nodul sursă: 1541335

TOKYO, Jun 28, 2022 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation today announced the launch of the AFM100 Pro High-Sensitivity Scanning Probe Microscope System, a high-end scanning probe microscope (AFM(1)/SPM(2)) equipped with a newly developed high-sensitivity optical head that improves sensitivity when measuring physical properties and enables measurement at atomic and molecular scales.
Sistem de microscop cu sondă de scanare de înaltă sensibilitate AFM100 Pro


În domeniul cercetării și dezvoltării materialelor funcționale avansate, dezvoltarea de echipamente de măsurare și analiză extrem de sensibile este la mare căutare. AFM100 Pro îndeplinește cerințele de analiză la fața locului și va contribui la rezolvarea problemelor clienților.

Prezentare generală a AFM

AFM este un tip de dispozitiv de măsurare și analiză care scanează suprafața unei probe folosind o sondă cu un vârf care are doar câțiva nanometri(3) în diametru. AFM poate vizualiza o suprafață de probă la scară nanometrică și poate efectua simultan evaluări ale proprietăților fizice. AFM este utilizat în cercetare și dezvoltare și controlul calității într-o gamă largă de industrii, cum ar fi semiconductoarele, polimerii și biomedical. Hitachi High-Tech oferă o gamă largă de dispozitive AFM ușor de utilizat și a îmbunătățit constant fiabilitatea acestor dispozitive prin simplificarea procesului de măsurare AFM și prevenirea variațiilor de date cauzate de operator.

Contextul dezvoltării AFM100 Pro

În ultimii ani, dezvoltarea materialelor funcționale avansate s-a concentrat pe inginerie la scară nanometrică, pentru a facilita dezvoltarea neutralității carbonului, a transformării digitale (DX) care implică AI și IoT, EV-uri, 5G și dispozitive de alimentare. Pe măsură ce noile materiale funcționale devin mai mici, mai subțiri și mai organice, a existat o cerere crescută de îmbunătățire a sensibilității la măsurarea modificărilor microscopice și a variațiilor minore ale proprietăților fizice ale suprafețelor materialelor.

Caracteristici AFM100 Pro

Pentru a face față acestor provocări, AFM100 Pro dezvoltat de Hitachi High-Tech este echipat cu un cap optic de înaltă sensibilitate nou dezvoltat, care utilizează excitația fototermică pentru a obține o sensibilitate îmbunătățită la măsurarea proprietăților fizice și măsurarea la scară atomică și moleculară.

Principalele caracteristici ale acestui produs sunt următoarele:

1. Capul optic de înaltă sensibilitate îmbunătățește sensibilitatea la măsurarea proprietăților fizice

Noul cap optic de înaltă sensibilitate reduce nivelul de zgomot pentru detectarea deplasării în consolă și optimizează sensibilitatea de detecție.
În plus, funcția de excitare fototermică (IR-Drive), care excită cantilever folosind lumină, permite un control stabil al amplitudinii oscilației cantilever în ordinea sub-nm. Acest lucru permite măsurarea de înaltă rezoluție atunci când se observă în lichide.

2. Analiza avansată a corelației cu măsurarea de înaltă sensibilitate a proprietăților fizice și observarea SEM în aceeași locație

Capul optic de înaltă sensibilitate, cu un nivel de zgomot semnificativ redus, permite detectarea diferențelor subtile de proprietăți fizice, care nu au putut fi observate folosind capete optice convenționale din cauza zgomotelor relativ mai mari. Funcția opțională AFM Marking facilitează observarea aceleiași locații ca și SEM(4), contribuind semnificativ la identificarea factorilor din spatele diferențelor subtile în informațiile despre proprietatea fizică.

3. Scalabil și durabil

Modelul standard AFM100 și AFM100 Plus pot fi ambele upgrade la AFM100 Pro. De exemplu, puteți începe cu AFM100 prietenos cu bugetul, apoi faceți upgrade la AFM100 Pro mai târziu dacă aveți nevoie de un nivel mai ridicat de analiză. În plus, este inclusă standard o funcție de autoverificare, pentru a asigura fiabilitatea echipamentului pe o perioadă lungă de timp.

Hitachi High-Tech va continua să ofere soluții inovatoare precum acest produs în timp util, în timp ce lucrează la observare, măsurare și analiză pentru a rezolva problemele sociale împreună cu clienții noștri, precum și contribuind la producția de ultimă oră.

(1) AFM: Microscop de forță atomică
(2) SPM: Microscop cu sondă de scanare
(3) Nanometri: Un nanometru = o milioneme de milimetru
(4) SEM: Microscop electronic cu scanare

Despre Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech, cu sediul în Tokyo, Japonia, este angajată în activități într-o gamă largă de domenii, inclusiv fabricarea și vânzarea de analizoare clinice, produse biotehnologice și instrumente analitice, echipamente de fabricare a semiconductoarelor și echipamente de analiză. și furnizarea de soluții cu valoare adăugată ridicată în domeniile infrastructurilor sociale și industriale și mobilității, etc. Veniturile consolidate ale companiei pentru anul fiscal 2021 au fost de cca. 576.8 miliarde JPY [5.1 miliarde USD]. Pentru mai multe informații, vizitați http://www.hitachi-hightech.com/global/


Copyright 2022 JCN Newswire. Toate drepturile rezervate. www.jcnnewswire.comHitachi High-Tech Corporation a anunțat astăzi lansarea sistemului de microscop cu sondă de scanare de înaltă sensibilitate AFM100 Pro, un microscop cu sondă de scanare de ultimă generație (AFM/SPM) echipat cu un cap optic de înaltă sensibilitate nou dezvoltat, care îmbunătățește sensibilitatea atunci când se măsoară proprietățile fizice și permite măsurarea la scară atomică și moleculară.

Timestamp-ul:

Mai mult de la JCN Newswire