Hitachi High-Tech выпускает высокочувствительный сканирующий зондовый микроскоп AFM100 Pro с улучшенной чувствительностью обнаружения

Отметка времени: 28 июня 2022 г., 4:51
Исходный узел: 1541335

ТОКИО, 28 июня 2022 г. – (JCN Newswire) – Корпорация Hitachi High-Tech сегодня объявила о выпуске системы высокочувствительного сканирующего зондового микроскопа AFM100 Pro, высокотехнологичного сканирующего зондового микроскопа (AFM(1)/SPM(2) ) оснащен недавно разработанной высокочувствительной оптической головкой, которая повышает чувствительность при измерении физических свойств и позволяет проводить измерения на атомном и молекулярном уровнях.
Высокочувствительный сканирующий зондовый микроскоп AFM100 Pro


В области исследования и разработки перспективных функциональных материалов большой спрос на разработку высокочувствительного измерительного и аналитического оборудования. AFM100 Pro отвечает требованиям анализа на месте и будет способствовать решению проблем клиентов.

Обзор АСМ

АСМ — это устройство для измерения и анализа, которое сканирует поверхность образца с помощью зонда с наконечником диаметром всего несколько нанометров(3). АСМ может визуализировать поверхность образца в наномасштабе и одновременно выполнять оценку физических свойств. АСМ используется в исследованиях, разработках и контроле качества в широком спектре отраслей, таких как полупроводниковая, полимерная и биомедицинская. Hitachi High-Tech предлагает широкий спектр удобных в использовании устройств АСМ и постоянно повышает надежность этих устройств, упрощая процесс измерения АСМ и предотвращая отклонения данных, вызванные действиями оператора.

История разработки AFM100 Pro

В последние годы разработка передовых функциональных материалов была сосредоточена на наноинженерии, чтобы способствовать развитию углеродной нейтральности, цифровой трансформации (DX) с использованием ИИ и IoT, электромобилей, 5G и силовых устройств. По мере того, как новые функциональные материалы становятся меньше, тоньше и органичнее, возрастает потребность в повышении чувствительности при измерении микроскопических изменений и незначительных вариаций физических свойств поверхностей материалов.

Особенности AFM100 Pro

Чтобы справиться с этими проблемами, AFM100 Pro, разработанный Hitachi High-Tech, оснащен недавно разработанной высокочувствительной оптической головкой, в которой используется фототермическое возбуждение для повышения чувствительности при измерении физических свойств и измерениях на атомном и молекулярном уровнях.

Основные особенности этого продукта следующие:

1. Высокочувствительная оптическая головка повышает чувствительность при измерении физических свойств.

Недавно разработанная высокочувствительная оптическая головка снижает уровень шума при обнаружении смещения кантилевера и оптимизирует чувствительность обнаружения.
Кроме того, функция фототермического возбуждения (IR-Drive), которая возбуждает кантилевер с помощью света, позволяет стабильно контролировать амплитуду колебаний кантилевера в субнанометровом порядке. Это позволяет выполнять измерения с высоким разрешением при наблюдении за жидкостями.

2. Усовершенствованный корреляционный анализ с высокочувствительным измерением физических свойств и наблюдением РЭМ в одном и том же месте.

Высокочувствительная оптическая головка со значительно сниженным уровнем шума позволяет обнаруживать тонкие различия в физических свойствах, которые нельзя было наблюдать с помощью обычных оптических головок из-за относительно более высоких шумов. Дополнительная функция AFM Marking упрощает наблюдение того же местоположения, что и SEM(4), что в значительной степени способствует выявлению факторов, лежащих в основе тонких различий в информации о физических свойствах.

3. Масштабируемость и надежность.

Стандартную модель AFM100 и AFM100 Plus можно обновить до AFM100 Pro. Например, вы можете начать с недорогого AFM100, а затем перейти на AFM100 Pro позже, если вам потребуется более высокий уровень анализа. Кроме того, функция самоконтроля включена в стандартную комплектацию, чтобы обеспечить надежность оборудования в течение длительного времени.

Hitachi High-Tech продолжит своевременно предоставлять инновационные решения, такие как этот продукт, работая над наблюдением, измерением и анализом для решения социальных проблем вместе с нашими клиентами, а также внося свой вклад в передовое производство.

(1) АСМ: атомно-силовой микроскоп
(2) SPM: Сканирующий зондовый микроскоп
(3) Нанометры: один нанометр = одна миллионная часть миллиметра.
(4) РЭМ: сканирующий электронный микроскоп

О Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech со штаб-квартирой в Токио, Япония, занимается деятельностью в широком диапазоне областей, включая производство и продажу клинических анализаторов, продуктов биотехнологии и аналитических приборов, оборудования для производства полупроводников и аналитического оборудования. и предоставление решений с высокой добавленной стоимостью в области социальной и промышленной инфраструктуры, мобильности и т. д. Консолидированная выручка компании за 2021 финансовый год составила ок. 576.8 млрд иен [5.1 млрд долларов США]. Для получения дополнительной информации посетите http://www.hitachi-hightech.com/global/


Copyright 2022 JCN Newswire. Все права защищены. www.jcnnewswire.com Hitachi High-Tech Corporation сегодня объявила о выпуске высокочувствительной системы сканирующего зондового микроскопа AFM100 Pro, высокотехнологичного сканирующего зондового микроскопа (АСМ/СЗМ), оснащенного недавно разработанной высокочувствительной оптической головкой, повышающей чувствительность. при измерении физических свойств и позволяет выполнять измерения в атомном и молекулярном масштабе.

Отметка времени:

Больше от Лента новостей JCN