Hitachi High-Tech запускає систему високочутливого скануючого зондового мікроскопа AFM100 Pro з покращеною чутливістю виявлення

Перевидано Платоном

читають: 0

ТОКІО, 28 червня 2022 р. – (JCN Newswire) – Корпорація Hitachi High-Tech сьогодні оголосила про запуск системи високочутливого скануючого зондового мікроскопа AFM100 Pro, висококласного скануючого зондового мікроскопа (AFM(1)/SPM(2)) ), оснащений нещодавно розробленою високочутливою оптичною головкою, яка покращує чутливість під час вимірювання фізичних властивостей і дозволяє проводити вимірювання в атомному та молекулярному масштабах.

Високочутлива система скануючого зондового мікроскопа AFM100 Pro

У галузі дослідження та розробки передових функціональних матеріалів розробка високочутливого вимірювального та аналізуючого обладнання користується великим попитом. AFM100 Pro відповідає вимогам щодо аналізу на місці та сприятиме вирішенню проблем клієнтів.

Огляд АСМ

АСМ – це тип приладу для вимірювання та аналізу, який сканує поверхню зразка за допомогою зонда з наконечником діаметром лише кілька нанометрів(3). АСМ може візуалізувати поверхню зразка на нанорозмірі та одночасно виконувати оцінку фізичних властивостей. АСМ використовується в дослідженнях і розробках і контролі якості в багатьох галузях промисловості, таких як напівпровідникова, полімерна та біомедична. Hitachi High-Tech надає широкий спектр зручних для користувача пристроїв АСМ і постійно покращує надійність цих пристроїв, спрощуючи процес вимірювання АСМ і запобігаючи відхиленням даних, спричиненим оператором.

Передумови розробки AFM100 Pro

В останні роки розробка передових функціональних матеріалів була зосереджена на нанорозмірній інженерії, щоб сприяти розвитку вуглецевої нейтральності, цифрової трансформації (DX) із залученням AI та IoT, електромобілів, 5G та пристроїв живлення. Оскільки нові функціональні матеріали стають меншими, тоншими та більш органічними, зростає потреба у покращенні чутливості під час вимірювання мікроскопічних змін і незначних коливань у фізичних властивостях поверхонь матеріалів.

Функції AFM100 Pro

Щоб протистояти цим викликам, AFM100 Pro, розроблений Hitachi High-Tech, оснащений нещодавно розробленою високочутливою оптичною головкою, яка використовує фототермічне збудження для досягнення покращеної чутливості під час вимірювання фізичних властивостей і вимірювань на атомному та молекулярному рівнях.

Основні особливості цього продукту такі:

1. Високочутлива оптична головка покращує чутливість при вимірюванні фізичних властивостей

Нещодавно розроблена високочутлива оптична головка знижує рівень шуму для виявлення зсуву кантилевера та оптимізує чутливість виявлення.
Крім того, функція фототермічного збудження (IR-Drive), яка збуджує кантилевер за допомогою світла, забезпечує стабільний контроль амплітуди коливань кантілевера в порядку субнм. Це забезпечує вимірювання з високою роздільною здатністю під час спостережень у рідинах.

2. Розширений кореляційний аналіз із високочутливим вимірюванням фізичних властивостей і SEM спостереженням у тому самому місці

Високочутлива оптична головка зі значно зниженим рівнем шуму дозволяє виявити незначні відмінності у фізичних властивостях, які не можна спостерігати за допомогою звичайних оптичних головок через відносно високі шуми. Додаткова функція AFM Marking дозволяє легко спостерігати те саме місце, що й SEM(4), значно сприяючи визначенню факторів, що стоять за незначними відмінностями в інформації про фізичні властивості.

3. Масштабований і довговічний

Стандартну модель AFM100 і AFM100 Plus можна оновити до AFM100 Pro. Наприклад, ви можете почати з бюджетного AFM100, а потім оновити до AFM100 Pro пізніше, якщо вам потрібен вищий рівень аналізу. Крім того, функція самоперевірки включена в стандартну комплектацію, щоб забезпечити надійність обладнання протягом тривалого часу.

Hitachi High-Tech продовжуватиме своєчасно надавати інноваційні рішення, такі як цей продукт, одночасно працюючи над спостереженнями, вимірюваннями та аналізом для вирішення соціальних проблем разом із нашими клієнтами, а також сприяючи розвитку передового виробництва.

(1) АСМ: атомно-силовий мікроскоп
(2) SPM: скануючий зондовий мікроскоп
(3) Нанометри: один нанометр = одна мільйонна міліметра
(4) SEM: скануючий електронний мікроскоп

Про Hitachi High-Tech

Hitachi High-Tech зі штаб-квартирою в Токіо, Японія, займається діяльністю в широкому діапазоні галузей, включаючи виробництво та продаж клінічних аналізаторів, біотехнологічних продуктів і аналітичних інструментів, обладнання для виробництва напівпровідників і обладнання для аналізу. а також надання рішень із високою доданою вартістю у сферах соціальної та промислової інфраструктури та мобільності тощо. Консолідований дохід компанії за 2021 фінансовий рік склав прибл. 576.8 мільярда єн [5.1 мільярда доларів США]. Для отримання додаткової інформації відвідайте http://www.hitachi-hightech.com/global/

Авторське право 2022 JCN Newswire. Всі права захищені. www.jcnnewswire.comHitachi High-Tech Corporation сьогодні оголосила про запуск системи високочутливого скануючого зондового мікроскопа AFM100 Pro, високоякісного скануючого зондового мікроскопа (AFM/SPM), оснащеного нещодавно розробленою високочутливою оптичною головкою, яка покращує чутливість. при вимірюванні фізичних властивостей і дозволяє вимірювати в атомному та молекулярному масштабах.