Công nghệ cao của Hitachi ra mắt Hệ thống kính hiển vi đầu dò quét độ nhạy cao AFM100 Pro với độ nhạy phát hiện được cải thiện

Dấu thời gian: ngày 28 tháng 2022 năm 4 51:XNUMX sáng
Nút nguồn: 1541335

TOKYO, ngày 28 tháng 2022 năm 100 - (JCN Newswire) - Tập đoàn Công nghệ cao Hitachi hôm nay công bố ra mắt Hệ thống kính hiển vi đầu dò quét độ nhạy cao AFM1 Pro, một kính hiển vi đầu dò quét cao cấp (AFM (2) / SPM (XNUMX) ) được trang bị đầu quang học độ nhạy cao mới được phát triển giúp cải thiện độ nhạy khi đo các đặc tính vật lý và cho phép đo ở quy mô nguyên tử và phân tử.
Hệ thống kính hiển vi đầu dò quét độ nhạy cao AFM100 Pro


Trong lĩnh vực nghiên cứu và phát triển các vật liệu chức năng tiên tiến, nhu cầu phát triển của các thiết bị đo lường và phân tích có độ nhạy cao là rất cần thiết. AFM100 Pro đáp ứng yêu cầu phân tích tại chỗ và sẽ góp phần giải quyết các vấn đề của khách hàng.

Tổng quan về AFM

AFM là một loại thiết bị đo lường và phân tích quét bề mặt của mẫu bằng cách sử dụng một đầu dò có đầu có đường kính chỉ vài nanomet (3). AFM có thể hình dung bề mặt mẫu ở kích thước nano và đồng thời thực hiện các đánh giá thuộc tính vật lý. AFM được sử dụng trong nghiên cứu phát triển và kiểm soát chất lượng trong nhiều ngành công nghiệp, chẳng hạn như chất bán dẫn, polymer và y sinh. Hitachi High-Tech cung cấp một loạt các thiết bị AFM thân thiện với người dùng và đã không ngừng nâng cao độ tin cậy của các thiết bị này bằng cách đơn giản hóa quy trình đo AFM và ngăn chặn sự sai lệch dữ liệu do người vận hành gây ra.

Bối cảnh phát triển AFM100 Pro

Trong những năm gần đây, sự phát triển của các vật liệu chức năng tiên tiến đang tập trung vào kỹ thuật kích thước nano, để tạo điều kiện phát triển tính trung lập carbon, chuyển đổi kỹ thuật số (DX) liên quan đến AI và IoT, EVs, 5G và các thiết bị điện. Khi các vật liệu chức năng mới ngày càng nhỏ hơn, mỏng hơn và nhiều chất hữu cơ hơn, nhu cầu cải thiện độ nhạy ngày càng tăng khi đo các thay đổi vi mô và các biến đổi nhỏ trong tính chất vật lý của bề mặt vật liệu.

Tính năng AFM100 Pro

Để đối mặt với những thách thức này, AFM100 Pro do Hitachi High-Tech phát triển được trang bị đầu quang học độ nhạy cao mới được phát triển sử dụng kích thích quang nhiệt để đạt được độ nhạy được cải thiện khi đo các đặc tính vật lý và đo lường ở quy mô nguyên tử và phân tử.

Các tính năng chính của sản phẩm này như sau:

1. Đầu quang học độ nhạy cao cải thiện độ nhạy khi đo các đặc tính vật lý

Đầu quang học có độ nhạy cao mới được phát triển giúp giảm độ ồn để phát hiện dịch chuyển công xôn và tối ưu hóa độ nhạy phát hiện.
Ngoài ra, chức năng kích thích quang nhiệt (IR-Drive), kích thích công xôn bằng ánh sáng, cho phép kiểm soát ổn định biên độ dao động công xôn theo thứ tự dưới nm. Điều này cho phép đo độ phân giải cao khi quan sát trong chất lỏng.

2. Phân tích tương quan nâng cao với phép đo độ nhạy cao của các đặc tính vật lý và quan sát SEM tại cùng một vị trí

Đầu quang học có độ nhạy cao với mức độ nhiễu giảm đáng kể cho phép phát hiện những khác biệt nhỏ về đặc tính vật lý mà không thể quan sát được bằng đầu quang học thông thường do tiếng ồn tương đối cao hơn. Chức năng Đánh dấu AFM tùy chọn giúp dễ dàng quan sát cùng một vị trí với SEM (4), góp phần đáng kể vào việc xác định các yếu tố đằng sau sự khác biệt nhỏ trong thông tin đặc tính vật lý.

3. Có thể mở rộng và bền

Cả mẫu AFM100 tiêu chuẩn và AFM100 Plus đều có thể được nâng cấp lên AFM100 Pro. Ví dụ: bạn có thể bắt đầu với AFM100 thân thiện với ngân sách, sau đó nâng cấp lên AFM100 Pro sau nếu bạn cần mức phân tích cao hơn. Ngoài ra, chức năng tự kiểm tra được đưa vào làm tiêu chuẩn, nhằm đảm bảo độ tin cậy của thiết bị trong thời gian dài.

Hitachi High-Tech sẽ tiếp tục cung cấp các giải pháp sáng tạo như sản phẩm này một cách kịp thời, đồng thời làm việc về Quan sát, Đo lường và Phân tích để giải quyết các vấn đề xã hội cùng với khách hàng của chúng tôi, cũng như đóng góp vào sản xuất tiên tiến.

(1) AFM: Kính hiển vi lực nguyên tử
(2) SPM: Kính hiển vi thăm dò quét
(3) Nanomet: Một nanomet = một phần triệu milimét
(4) SEM: Kính hiển vi điện tử quét

Giới thiệu về Công nghệ cao của Hitachi

Hitachi High-Tech có trụ sở chính tại Tokyo, Nhật Bản, tham gia vào các hoạt động trong nhiều lĩnh vực, bao gồm sản xuất và kinh doanh máy phân tích lâm sàng, sản phẩm công nghệ sinh học và dụng cụ phân tích, thiết bị sản xuất chất bán dẫn và thiết bị phân tích. và cung cấp các giải pháp có giá trị gia tăng cao trong các lĩnh vực cơ sở hạ tầng xã hội & công nghiệp và di chuyển, v.v. Doanh thu hợp nhất của công ty cho năm tài chính 2021 là khoảng. 576.8 tỷ Yên [5.1 tỷ USD]. Để biết thêm thông tin, hãy truy cập http://www.hitachi-hightech.com/global/


Bản quyền 2022 JCN Newswire. Đã đăng ký Bản quyền. www.jcnnewswire.com Tập đoàn Công nghệ cao Hitachi hôm nay đã công bố ra mắt Hệ thống kính hiển vi quét đầu dò độ nhạy cao AFM100 Pro, một kính hiển vi thăm dò quét cao cấp (AFM / SPM) được trang bị đầu quang học độ nhạy cao mới được phát triển giúp cải thiện độ nhạy khi đo các tính chất vật lý và cho phép đo ở quy mô nguyên tử và phân tử.

Dấu thời gian:

Thêm từ Bản tin JCN