日立分析仪器推出具有更高检测灵敏度的 AFM100 Pro 高灵敏度扫描探针显微镜系统

东京，28 年 2022 月 100 日 – (JCN 新闻专线) – 日立高新技术公司今天宣布推出 AFM1 Pro 高灵敏度扫描探针显微镜系统，这是一款高端扫描探针显微镜 (AFM(2)/SPM(XNUMX) ）配备了新开发的高灵敏度光学头，提高了测量物理特性时的灵敏度，并可实现原子和分子尺度的测量。

在先进功能材料的研发领域，开发高灵敏度的测量分析设备需求量很大。 AFM100 Pro 满足现场分析要求，有助于解决客户问题。

原子力显微镜概述

AFM 是一种测量和分析设备，它使用直径仅为几纳米 (3) 的探针扫描样品表面。 AFM 可以在纳米尺度上可视化样品表面，同时进行物理性质评估。 AFM 用于半导体、聚合物和生物医学等众多行业的研发和质量控制。 日立分析仪器提供范围广泛的用户友好型 AFM 设备，并通过简化 AFM 测量过程和防止操作人员造成的数据差异，不断提高这些设备的可靠性。

AFM100 Pro 开发背景

近年来，先进功能材料的开发一直专注于纳米工程，以促进碳中和、涉及人工智能和物联网、电动汽车、5G和电力设备的数字化转型（DX）的发展。 随着新功能材料变得越来越小、越来越薄和越来越有机，在测量材料表面物理性质的微观变化和微小变化时，提高灵敏度的需求越来越高。

AFM100 Pro 特点

为应对这些挑战，日立高新技术开发的AFM100 Pro配备了新开发的高灵敏度光学头，在测量物理性质和原子分子尺度测量时，利用光热激发提高灵敏度。

本产品的主要特点如下：

1.高灵敏度光学头提高了测量物理特性时的灵敏度

新开发的高灵敏度光学头降低了悬臂位移检测的噪音水平，优化了检测灵敏度。
此外，使用光激发悬臂的光热激发功能（IR-Drive）能够稳定地控制亚纳米级的悬臂振荡幅度。 当在液体中观察时，这可以实现高分辨率测量。

2. 高灵敏度的物性测量和同一位置的 SEM 观察的高级相关性分析

具有显着降低噪声水平的高灵敏度光学头能够检测物理性质的细微差异，这是使用传统光学头由于相对较高的噪声而无法观察到的。 可选的 AFM 标记功能可以轻松观察与 SEM(4) 相同的位置，从而显着有助于识别物理特性信息细微差异背后的因素。

3. 可扩展和耐用

标准 AFM100 型号和 AFM100 Plus 都可以升级到 AFM100 Pro。 例如，您可以从预算友好的 AFM100 开始，如果您需要更高水平的分析，稍后升级到 AFM100 Pro。 此外，标配自检功能，确保设备长期可靠运行。

日立高新技术将继续及时提供与该产品类似的创新解决方案，同时致力于观察、测量和分析，与我们的客户一起解决社会问题，并为尖端制造做出贡献。

(1) AFM：原子力显微镜
(2) SPM：扫描探针显微镜
(3) 纳米：一纳米=百万分之一毫米
(4) SEM：扫描电子显微镜

关于日立高新技术

日立分析仪器总部位于日本东京，从事临床分析仪、生物技术产品和分析仪器、半导体制造设备和分析设备的制造和销售等广泛领域的活动。 并在社会和工业基础设施和移动等领域提供高附加值的解决方案。公司2021财年的综合收入约为。 576.8 亿日元 [5.1 亿美元]。 如需更多信息，请访问 http://www.hitachi-hightech.com/global/


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